原子力顯微鏡的工作模式

智達機電

　　原子力顯微鏡（AFM）主要有以下幾種工作模式，每種模式適用于不同類型的樣品和測量需求：
　　1. 接觸模式
　　在這種模式下，探針與樣品表面保持持續(xù)接觸。
　　探針通過接觸力與表面相互作用，懸臂梁會彎曲或偏移，這些變化用來記錄表面的形貌。
　　適用于硬質或平坦的樣品，提供較高的分辨率，但可能會對軟性樣品造成損傷。
　　2. 非接觸模式    探針與樣品表面保持一定距離，不直接接觸，而是通過表面間的長程力（如范德華力）進行相互作用。
　　適用于軟性或敏感的樣品，因為探針不接觸樣品表面，避免了物理損傷。
　　該模式的分辨率較低，但能夠對樣品表面的細節(jié)進行更溫和的觀察。
　　3. 輕敲模式
　　探針在接觸和非接觸之間交替振動，與樣品表面進行輕微的接觸。
　　這種模式結合了接觸模式和非接觸模式的優(yōu)點，適用于軟性樣品，能夠提供較好的分辨率并減少表面損傷。
　　常用于測量材料的表面形貌和力學特性，特別是軟材料和生物樣品。
　　4. 力距離曲線模式
　　該模式下，探針與樣品表面逐漸接近，記錄探針與樣品之間的力與距離變化關系。
　　適用于測量樣品的力學性質，如彈性模量、粘附力等。
　　這些不同的模式使得AFM能夠根據(jù)不同樣品的需求選擇合適的操作方式，從而獲得所需的表面形貌和物理特性信息。

半世迷離゜

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貝碧嘉

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